Description
LS225+F500 adalah pengukur ketebalan pelapisan dengan host dan probe terpisah. Alat ini terdiri dari host pengukur ketebalan pelapis multi-probe LS225+F500 dan probe F500. Pengukur ketebalan pelapisan LS225+F500 secara khusus digunakan untuk mendeteksi lapisan tembaga, seng, timah, kromium, dan lapisan non-magnetik pada besi dan substrat logam feromagnetik lainnya. Pengukur ketebalan pelapisan ini memiliki akurasi dan pengulangan pengukuran yang sangat tinggi. Alat ini dapat digunakan untuk mengukur ketebalan lapisan ultra-tipis di bawah 10μm. Pengukur ketebalan pelapisan LS225+F500 banyak digunakan dalam industri pengolahan logam, perangkat keras, dan industri lainnya, serta sangat cocok untuk menguji material berukuran kecil dengan diameter area pengukuran minimum hanya 7 mm.
Parameters
LS225 plating thickness gauge host parameters
| Parameter | Value |
|---|---|
| Display | 240×160 dot matrix LCD |
| Power supply | 4pcs of 1.5V AAA alkaline battery |
| Operation temperaturerange | 0℃-50℃ |
| Storage temperaturerange | -20℃-60℃ |
| Host size | 148*76*26 mm (L*W*H) |
| Weight (include battery) | 194g |
F500 probe parameters
| Parameter | Value |
|---|---|
| Measuring principle | Magnetic Induction |
| Measuring range | 0.0-500μm |
| Resolution | 0.1μm: 0μm – 99.9μm 1μm: 100μm – 500μm |
| Repeatability | ≤ ± (0.8%H+0.1μm)Test with fixture, H is the standard value |
| Accuracy | ≤±(2%H+0.3μm) after calibration of 1-5 points, H is the standard value |
| Unit | μm / mil |
| Measuring interval | 1.5s |
| Minimum measuring area | Ø = 7mm |
| Minimum curvature | Convex:1.5mm / Concave:10mm |
| Minimum substrate thickness | 0.1mm |
| Calibration | Support zero reference adjustment and 1 to 5-points calibration |
| Probe size | 110*15 mm (Without connecting cable) |
| Probe weight | 81g |
Kontak Kami :
Telp/Whatsapp : 0812 1248 2471
Email : alfin@testindo.com
Reviews
There are no reviews yet.