Dynamic Leeb Probe type C

Leeb Probe Tipe C secara khusus dirancang untuk pengujian kekerasan pada komponen yang diperkeras permukaannya, pelapis, dan material berdinding tipis atau yang peka terhadap benturan. Alat ini dirancang untuk membuat lekukan pengukuran kecil, sehingga ideal untuk aplikasi yang rumit yang memerlukan kerusakan permukaan minimal.

Description

Area aplikasi

Leeb Probe Tipe C sangat cocok untuk menguji komponen yang diperkeras permukaannya seperti roda gigi, pelapis, dan bagian berdinding tipis lainnya. Energi tumbukannya yang rendah sebesar 3 Nmm dan desainnya yang ringan membuatnya ideal untuk situasi di mana deformasi permukaan yang minimal sekalipun dapat mengganggu fungsi atau penampilan komponen.

 

Serbaguna dan presisi

Ujung tungsten karbida probe, dengan diameter 3 mm dan kekerasan 1600 HV, memastikan daya tahan sekaligus memberikan pengukuran yang tepat pada berbagai macam material. Probe ini mampu mengukur kekerasan hingga 1000 HV, sehingga serbaguna untuk pelapis yang lebih lembut dan komponen yang lebih keras dan diperkeras permukaannya. Ukuran lekukan probe yang kecil memastikan bahwa integritas permukaan tetap terjaga, yang sangat penting dalam lingkungan dengan presisi tinggi.

 

Dapat beradaptasi dengan berbagai kondisi pengujian

Leeb Probe Tipe C dapat digunakan dengan sampel dengan berat dan ketebalan yang berbeda:

  • Berat sampel minimum:
    • Of compact shape: 1.5 kg (3.3 lbs).
    • On solid support: 0.5 kg (1.1 lbs).
    • Coupled on plate: 0.02 kg (0.045 lbs).
  • Ketebalan sampel minimum:
    • Uncoupled: 15 mm (0.59 inch).
    • Coupled: 1 mm (0.04 inch).
    • Surface layer thickness: 0.2 mm (0.008 inch).

Lekukan minimal untuk permukaan sensitif

Probe menghasilkan ukuran lekukan minimal pada permukaan uji, sehingga cocok untuk aplikasi yang sensitif:

  • Ukuran lekukan pada permukaan uji:
    • With 300 HV, 30 HRC: 0.38 mm diameter, 12 μm depth.
    • With 600 HV, 55 HRC: 0.32 mm diameter, 8 μm depth.
    • With 800 HV, 63 HRC: 0.30 mm diameter, 7 μm depth.

Keunggulan

  • Presisi
  • Kelezatan
  • Keserbagunaan
  • Pengawetan permukaan

Spesifikasi

Application Surface-hardened components, coatings, thin-walled or impact-sensitive parts
Type Leeb C
Application Surface hardened components, coatings, thin walled or impact sensitive components (small measuring indentation)
Indenter type Tungsten carbide
Test object requirements ·               Minimum sample weight:

Without support: 1.5 kg (3.3 lbs).
With support: 0.5 kg (1.1 lbs).
Coupled: 0.02 kg (0.045 lbs).

·               Minimum sample thickness:

Uncoupled: 15 mm (0.59 inch).

Coupled: 1 mm (0.04 inch).

Surface layer thickness: 0.8 mm (0.03 inch).

·               Material: low, fine and medium grained ferrous and non-ferrous metals

Measuring range ·            HLC: 300~800

·            HRC: 20~70

·            HB: 90~650

·            HV: 230~940

·            Tensile strength, MPa: 370~1740

·            User calibrations for any range (for example: HV10-1000)

Measurement accuracy ·            HLC: ±4

·            HRC: ±2

·            HB: ±10

·            HV: ±15

Scales ·            Precalibrated for HRC, HRA, HRB, HB, HV, MPA

·            Can be calibrated for any other (Shore HS, etc.)

Materials ·            Precalibrated for steel, alloy steel, cast iron, stainless steel, aluminum, bronze, brass, copper

·            Can be calibrated for any other

Standard ASTM A956
Compatible models T-UD3 (Lab), T-D3 (Lab), T-UD2 (Lab), T-D2 (Lab)
Operating environment Temperature: -20°C ~ 50°C
Humidity: 30% ~ 80% R.H
Weight (with cable), g 95
Dimensions, mm 141*20

Opsi yang tersedia

  • Set cincin penyangga untuk probe Leeb
  • Cincin penyangga dasar cadangan
  • Badan benturan cadangan
  • Kabel cadangan untuk probe

 

Contact Us:
– Telp & WhatsApp 0812-1248-2471
– Email alfin@testindo.com

Reviews

There are no reviews yet.

Be the first to review “Dynamic Leeb Probe type C”

Your email address will not be published. Required fields are marked *