Description
Sistem yang dapat diskalakan untuk pengukuran ketebalan film elektroda
Micro-Epsilon menawarkan berbagai macam sistem pengukuran ketebalan untuk berbagai kebutuhan dan bidang aplikasi dalam lini pelapisan. Bingkai-C thicknessCONTROL dirancang untuk lingkungan yang sangat keras seperti pada pelapisan kering. Rangka yang kuat dan fitur kompensasi suhu terintegrasi memastikan akurasi pengukuran yang tinggi bahkan dalam suhu lingkungan yang tinggi. Selain itu, sistem ini tersedia dalam berbagai desain khusus aplikasi untuk berbagai lebar film dengan hingga 8 track pengukuran.
Karakteristik
- Sistem pengukuran ketebalan presisi tinggi untuk film anoda dan katoda berlapis
- Teknologi sensor yang digunakan: sensor kromatik konfokal
- Ideal untuk pengukuran dan kontrol ketebalan pada pelapisan kering
- Desain yang kuat dengan kompensasi suhu terintegrasi
- Kisaran pengukuran ketebalan dari 10 µm
- Akurasi sistem dari ± 0,3 µm
- Paket perangkat lunak yang komprehensif untuk akuisisi data, pemrosesan sinyal, dan otomatisasi
- Dapat dikonfigurasi untuk 1, 2, 3, 4, 6, dan 8 track
Ideal untuk pengukuran ketebalan hingga 8 lintasan
thicknessCONTROL juga dapat digunakan untuk pengukuran jalur tetap, misalnya untuk pengukuran garis tengah (ketebalan tengah) atau untuk pengukuran ketebalan pada bagian tepi. Sebagai alternatif, sistem sensor ini juga dapat digunakan untuk pengukuran ketebalan lintasan film baterai berlapis. Sistem ini dapat dilengkapi dengan beberapa sensor untuk mengukur maksimum 8 lintasan secara serempak.
Contact Us:
– Telp & WhatsApp 0812-1248-2471
– Email alfin@testindo.com
Reviews
There are no reviews yet.